초정밀 반도체 誤동작 크게 줄여 .. 원자력병원 채종서 박사팀

한국원자력병원 사이클로트론 응용연구실 채종서 박사팀은 최근 삼성전자 품질관리팀과 사이클로트론 입자가속기를 이용해 초정밀 반도체의 오작동률을 줄일 수 있는 SER 시험에 성공했다고 16일 밝혔다.

SER(Soft Error Rate)는 메모리 반도체 칩 내부에 들어 있는 극미량의 우라늄이나 토륨,대기중에 존재하는 우주방사선 등의 영향을 받아 생기는 오작동률을 말한다.

채 박사팀은 원자력병원의 사이클로트론 입자가속기를 이용해 메모리 반도체가 중성자선에 의해 영향받아 오작동할 수 있다는 상관성을 규명했다.

이는 향후 삼성전자를 비롯 국내 반도체 업체가 생산하는 칩의 불량률을 대폭 줄일 수 있는 계기를 마련한 것으로 평가받고 있다.

이번 시험결과는 이달말 브라질 상파울루에서 열리는 세계원자력기구(IAEA) 주최 가속기 이용 심포지엄에서 발표될 예정이다.

김형호 기자 chsan@hankyung.com