반도체 검사장비 개발업체인 유니테스트(대표 김종현)는 15일 세계 최초로 400Mbps급 메모리 코어앤 번인(Memory Core & Burn-In) 일체형 검사장비 개발에 성공한 공로를 인정받아 제20주차 IR52 장영실상을 수상했다고 밝혔다.

유니테스트는 ATE(Automatic Test Equipment) 개발 원천기술을 기반으로 한 코어 테스트 및 번인 테스트를 동시에 할 수 있는 일체형 융합 장비 개발에 성공했다.

이 회사가 개발한 메모리 코어앤 번인 일체형 검사장비는 기존 번인장비의 10Mbps의 번인 테스트 속도에서 200~400Mbps급 고속으로, 셀 앤 코어 테스트가 가능하며 다양한 메모리 포맷 콘트롤을 지원함으로써 테스트 시간 단축과 큰 폭의 원가절감을 이룰 수 있었다. 고속 번인의 효과를 이용해 반도체 미세 선폭에 따른 품질 문제를 개선하는 데 큰 효과를 보고 있다.

회사 관계자는 "메모리 코어앤 번인 일체형 검사장비 개발하는 과정에서 반도체 테스트를 위한 패턴 생성 장치 및 패턴 생성 방법에 관한 특허 등 회사에서 직접 취득한 독자적인 원천특허 약 15종의 특허 기술이 사용되어 개발됐다"고 말했다.

아울러 유니테스트가 양산화에 성공한 고속의 번인 장비 시리즈는 현재까지 약 6000만불의 매출을 이루는 성과를 이뤘다.

김종현 유니테스트 대표는 "당사가 개발한 메모리 코어앤 번인 일체형 검사장비는 고속 다채널의 지원으로 메모리뿐 아니라 당사가 개발중인 LSI & 퓨전 메모리 검사장비에 대한 기초로 활용 가능하다"며 "당사가 반도체 검사장비 시장의 국산화를 주도할 수 있도록 앞으로도 연구개발에 박차를 가하겠다"고 말했다.

한경닷컴 정형석 기자 chs8790@hankyung.com