반도체 웨이퍼 같은 소재의 내부 구조를 파괴하지 않고도 관찰할 수 있는 새로운 개념의 X선 현미경 기술이 국내 연구진에 의해 개발됐다.

제정호 포스텍(포항공대) 신소재공학과 교수팀은 방사광 X선을 이용한 '밝은장 X선 영상(Bright-Field X-ray Imaging) 현미경 기술'을 세계 최초로 개발했다고 28일 밝혔다. 이 연구 성과는 미국에서 발간되는 물리학 분야 세계적 권위지인 국제응용물리레터 최신호에 표지 논문으로 실렸다.

기존 물질 구조와 특성을 밝히는 데 많이 사용하는 광학·전자현미경은 대상물을 관찰할 경우 절단,염색이 필요해 원래의 물질 구조를 제대로 파악할 수 없었다. 제 교수팀은 X선 현미경이 가지는 고분해능 성능과 고민감도 기능을 활용해 전자현미경으로 보지 못하는 원자 배열의 어긋남과 뒤틀림 현상을 동시에 관찰할 수 있는 기법을 개발했다.