한국과학기술연구원 특성분석센터는 10일 첨단 표면분석장비인 2차이온 질
량분석장비(SIMS)를 도입, 가동에 들어갔다.

세계은행(IBRD)차관으로 1백만달러에 들여오는 이 장비는 아시아지역에서는
처음 도입되는 장비이다.

에너지분석장치및 각각 2종류의 이온빔과 레이저를 장착,금속 반도체
고분자 세라믹등 모든 재료의 미량분석 분자구조분석등 첨단분석기능을
수행 할수 있어 국내 재료분야 연구에 큰 도움을 줄것으로 기대된다.

(한국경제신문 1994년 10월 11일자).