[한경속보]일본의 전자현미경 제조업체인 히타치하이테크놀로지사가 미국의 FEI사를 상대로 국내 무역위원회(KTC)에 특허침해에 따른 불공정무역행위 조사 및 수입금지를 신청했다.

7일 업계에 따르면 히타치가 자사의 특허를 침해받았다고 주장하는 기술은 ‘집속이온빔(FIB)과 프로브를 사용해 모재료로부터 투과형 전자현미경(TEM) 관찰용 미세 시료를 채취하는 기술’에 관한 것이다.히타치는 경쟁사인 FEI와 2003년부터 자사의 특허들에 관해 교섭해왔으나 원만하게 타결이 되지 않아 2009년부터 도쿄세관 및 도쿄지방재판소에 수입금지신청，가처분신청，특허침해금지소송 등을 제기했다.

도쿄세관에서는 지난 2월 FEI가 일본에 수출하고 있는 6개 제품 중 3개 제품에 대한 수입금지 신청이 받아들여 졌다.지난 6월에는 도쿄지방재판소에서도 가처분 결정이 내려졌다.또 FEI가 히타치를 상대로 제기한 특허무효 심판청구도 기각됐다.무역위원회는 히타치의 수입금지 신청에 대한 조사개시 결정을 내리고 현재 조사 중에 있다.

임도원 기자 van7691@hankyung.com