X-레이를 이용해 지문을 인식하는 새로운 기술이 미국에서 개발됐다. 뉴멕시코주 소재 로스앨러모스 국립연구소 연구팀의 크리스토퍼 월리는 29일 `미니 X-레이 형광'이라는 기술을 사용, 지문의 화학적 요소을 변형시키지 않고 인식할 수 있다고 밝혔다. 월리는 기존의 지문 인식 기술들은 일정한 빛으로 지문의 패턴을 찾아내는 방법으로, 가루로 지문을 처리해야 해 지문을 변형시키는 단점이 있다고 지적했다. 그는 새 기술로는 지문을 변형시킬 위험이 없다며 "지문에 있는 요소들과 패턴을 동시에 알아낼 수 있다"고 설명했다. 이 기술은 지문 표면에 촘촘한 X-레이 광선을 쏜 뒤 이에 대한 컴퓨터 이미지를만드는 식으로 진행된다. 장비에 드는 비용은 17만5천달러(한화 1억8천만원). 지문 스캔 기술은 이미 널리 사용되고 있으나 이번 기술의 특징은 컴퓨터 소프트웨어, 기계 조작법 등 스캔한 지문을 살펴보는 방법들을 새로 알아낸 점이라고 월리는 덧붙였다. 연구팀의 조지 하브릴라는 "우리는 손가락의 천연기름이나 조직 잔여물을 조사하는 대신에 남겨진 성분의 특성을 조사한다"고 말했다. 연구팀의 바히드 마지디는 기존 기술들로 감식해낼 수 없는 특성을 가진 지문들이 있다면서 다른 방법들이 인식하지 못한 지문에 대해 새로운 기술이 유용하게 쓰일 것이라고 기대했다. 연구팀은 이미 새 기술이 실용적이지 못하다는 비판을 받았다면서 이번 연구의목적은 새 기술과 같은 방법이 실행 가능하다는 점을 보여주기 위한 것이라고 말했다. (로스앨러모스 AP=연합뉴스) cherora@yna.co.kr