과학기술부의 KT마크 등 정부 5개 부처가 각각 운영하고 있는 7종의 신기술 인증제도가 내년 상반기 중 2종으로 통합된다.


또 발명품이나 신기술 등에 대한 특허심사 대기시간이 현재 22개월에서 오는 2006년까지 10개월로 대폭 단축된다.


정부는 25일 오명 부총리 겸 과학기술부 장관 주재로 '제1회 과학 기술 관계장관 회의'를 열어 이 같은 내용을 심의,확정했다.


정부는 이날 회의에서 5개 부처 7종의 신기술 인증제도를 통합해 기술에 대한 인증은 신기술(NET)마크,제품에 대한 인증은 신제품(NEP)마크 등 2종으로 운영키로 했다.


인증 유효기간(연장기간 포함)도 현행 최대 3∼6년에서 NET는 최대 10년 이내,NEP는 최대 6년 이내로 조정했다.


이날 회의에서는 또 특허심사 대기 시간을 현행 22.1개월에서 오는 2006년까지 10개월로,특허심판 처리기간도 현행 14개월에서 6개월로 각각 단축키로 했다.


이를 위해 특허청은 특허심사 업무의 아웃소싱 확대 등 자구노력을 강화하는 한편 특허 심사인력 2백20명을 증원키로 했다.


한편 오 부총리는 과학기술관계 장관회의 운영방향 및 과기부에 신설되는 과학기술혁신본부의 운영방향에 대해서도 보고했다.


오 부총리는 "과학기술 혁신요소가 국가경제 성장에 크게 기여하는 시대가 된 만큼 과학기술혁신본부를 중심으로 연구개발(R&D)의 효율적 투자에서 산업화,수출에 이르기까지 전주기적 관리를 하도록 하겠다"고 밝혔다.


이날 회의에는 오 부총리를 비롯해 윤광웅 국방,허상만 농림,이희범 산업자원,진대제 정보통신,김근태 보건복지,곽결호 환경,강동석 건설교통,장승우 해양수산,김병일 기획예산처 장관 등 10개 부처 장관이 직접 참석했다.


오춘호 기자 ohchoon@hankyung.com