대검·특허청, '기술유출 피해액 산정' 공동 세미나
-
기사 스크랩
-
공유
-
댓글
-
클린뷰
-
프린트

대검과 특허청은 3일 오전 10시부터 서울 서초구 엘타워에서 '기술유출 피해액 산정 가치평가 도입을 위한 세미나'를 개최한다.
양 기관은 연구용역 등을 통해 기술유출 피해액 산정 방식을 체계화하기 위한 방안을 검토했다.
세미나에서는 그 결과를 토대로 기술 유출 방지를 위한 피해 금액 산정 기준, 지식재산(IP)의 가치평가, 외국의 사례 등에 관해 논의할 예정이다.
국가정보원, 산업통상자원부, 경찰청 등 기술 보호 유관 부처 관계자와 IP 가치평가기관의 실무자 등도 참석한다.
박현준 대검 과학수사부장은 "기술 유출행위는 기업의 생존을 위협할 뿐 아니라 국가 안전보장과 국민 경제에도 악영향을 미치는 중대한 범죄임에도 피해액을 특정하기 어려워 양형 요소로 반영되지 않고 있다"며 "검찰은 기술 가치를 산정할 수 있는 방안을 마련하여 양형 요소로 반영될 수 있도록 노력하겠다"고 밝혔다.
목성호 특허청 산업재산정책국장도 "기술유출 피해액 산정이 어려워 제대로 된 처벌이 곤란한 현 상황을 극복하는 것이 시급하다"며 "가치평가 모델이 확립될 수 있도록 노력하겠다"고 했다.
/연합뉴스