대검·특허청, '기술유출 피해액 산정' 공동 세미나

기술유출 범죄의 특성상 피해액 산정이 어려운 문제를 해결하기 위해 대검찰청과 특허청이 머리를 맞댄다.

대검과 특허청은 3일 오전 10시부터 서울 서초구 엘타워에서 '기술유출 피해액 산정 가치평가 도입을 위한 세미나'를 개최한다.

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양 기관은 연구용역 등을 통해 기술유출 피해액 산정 방식을 체계화하기 위한 방안을 검토했다.

세미나에서는 그 결과를 토대로 기술 유출 방지를 위한 피해 금액 산정 기준, 지식재산(IP)의 가치평가, 외국의 사례 등에 관해 논의할 예정이다.

국가정보원, 산업통상자원부, 경찰청 등 기술 보호 유관 부처 관계자와 IP 가치평가기관의 실무자 등도 참석한다.

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박현준 대검 과학수사부장은 "기술 유출행위는 기업의 생존을 위협할 뿐 아니라 국가 안전보장과 국민 경제에도 악영향을 미치는 중대한 범죄임에도 피해액을 특정하기 어려워 양형 요소로 반영되지 않고 있다"며 "검찰은 기술 가치를 산정할 수 있는 방안을 마련하여 양형 요소로 반영될 수 있도록 노력하겠다"고 밝혔다.

목성호 특허청 산업재산정책국장도 "기술유출 피해액 산정이 어려워 제대로 된 처벌이 곤란한 현 상황을 극복하는 것이 시급하다"며 "가치평가 모델이 확립될 수 있도록 노력하겠다"고 했다.

/연합뉴스