반도체장비업체인 디아이(대표 박원호)가 반도체 테스트장비의 국산화개발
을 확대한다.

이 회사는 최근 일본의 타바이 에스펙사와 번인시스템에 장치되는 체임버
제조기술에 대한 기술 계약을 체결, 이제품을 국내 생산한다고 24일 발표했
다.

또 일본 고마쓰사와 기술제휴로 그동안 전량 수입되던 반도체 소자 검사시
스템인 비전시스템을 국산화한다고 밝혔다.

체임버는 반도체 디바이스를 열을 가해 불량여부를 테스트하는 장비인 번인
시스템에서 디바이스를 적재하는 부분으로 그동안 일본에서 전량 수입해왔다

디아이는 이에따라 지난93년 국산화 개발한 번인시스템의 국산화율을 95%로
높이게 됐으며 체임버의 공급기간을 3개월에서 1.5개월로 단축할수 있게됐다

디아이는 오는 10월까지 싱글체임버와 듀얼체임버를 각각 20세트, 15세트씩
생산한다.

이회사는 또 부설연구소에서 현재 생산하고있는 4기가D램용 번인시스템의
가격을 더욱 낮추고 새로운 테스트기술을 적용할수있는 차세대 번인장비를
개발중이다.

한편 반도체 소자및 각종 전자부품의 불량유무를 컴퓨터로 자동 검사하는
장비인 비전시스템은 반도체 업체뿐아니라 전자업체에서 광범위하게 사용되
는 장비이다. < 고지희 기자 >

(한국경제신문 1997년 8월 25일자).