인텍플러스는 7일 표면 형상 측정 시스템과 관련해 미국 특허를 취득했다고 공시했다.

회사 측은 "이 기술을 이용하면 백색광 주사 간섭 원리를 이용하는 단일 장비에서 2차원과 3차원 정보를 모두 얻을 수 있으며 측정물 전체 면적 대신 특정 영역에 대해서만 3차원 검사를 할 수 있다"고 전했다.

한경닷컴 정인지 기자 injee@hankyung.com