금속 또는 비금속 재료 표면의 미세한 균열이나 결함을 정밀하게
측정할수 있는 비파괴검사용 초음파 탐지장치가 국내연구진에 의해
개발됐다.

대덕연구단지내 한국표준과학연구원 방재기술연구센터는 비파괴평가그룹
김병극 선임연구원(36)이 금속.비금속 재료나 대형구조물 등의 표면에
존재하는 미세한 균열이나 결함을 정밀하게 측정, 영상화 할수 있는
고성능 비파괴검사용 초음파 탐지장치를 개발, 미국 특허를 취득했다고
23일 밝혔다.

김연구원이 개발한 초음파 탐지장치는 물체에 초음파를 쏴 반사돼
나오는 표면탄성파를 분석, 결함이나 균열을 찾아내는 장치로 기존의
초음파탐지장치보다 훨씬 작은 결함까지 찾아낼수 있도록 정밀도를
크게 높인것이 특징이다.

< 대전 = 이계주 기자 >

(한국경제신문 1996년 12월 24일자).